ÀÏ Á¤ Ç¥ ÇÁ·Î±×·¥ ´Ù¿î·Îµå |
| | | | |
| - 2015. 5. 14(¸ñ) |
½Ã °£ | Á¦1¹ßÇ¥Àå | Á¦2¹ßÇ¥Àå | Á¦3¹ßÇ¥Àå |
12:30-13:30 | ÇÐȸ µî·Ï |
13:30-14:50 | Á¶¼±/ÇØ¾çÇ÷£Æ® | À½Çâ¹æÃâ & SHM | ÃÊÀ½ÆÄ |
14:50-15:10 | ÈÞ½Ä ½Ã°£ |
15:10-16:10 | ÃÊÀ½ÆÄ | À½Çâ¹æÃâ & SHM | ÇöÀåÀû¿ë ½Å±â¼ú |
<ºñÆÄ±«°Ë»çÇùȸ ±â¼úÀ§¿øÈ¸> |
16:10-16:30 | ÈÞ½Ä ½Ã°£ |
16:30-16:50 | °³ ȸ ½Ä <Á¦1¹ßÇ¥Àå> |
16:50-17:30 | Ưº° °¿¬ I <Á¦1¹ßÇ¥Àå> |
17:30-18:10 | Ưº° °¿¬ II <Á¦1¹ßÇ¥Àå> |
18:20-20:00 | ¸¸ Âù <1Ãþ ¿¬È¸Àå> |
| | | |
- 2015. 5. 15(±Ý) | |
½Ã °£ | Á¦1¹ßÇ¥Àå | Á¦2¹ßÇ¥Àå | |
08:30-09:30 | Æ÷½ºÅÍ ¹ßÇ¥ | |
09:30-10:50 | ±¤±â¼ú | Àû¿Ü¼±¿È»ó | |
10:50-11:10 | ÈÞ ½Ä ½Ã °£ | |
11:10-12:30 | ÃÊÀ½ÆÄ | ÀüÀÚ±â ¹× ¹æ»ç¼± | |
12:30-13:30 | Æóȸ(Çà¿î±Ç Ãß÷) ¹× Á¡½É½Ä»ç | |
13:30-17:00 | »ê¾÷½ÃÂû(Çö´ë»ïÈ£Áß°ø¾÷) ¹× ¸ñÆ÷½Ã Åõ¾î | |
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| | | | |
| <Ưº°°¿¬(Plenary Lecture)> |
| ÁÂÀå: ±è¿øÅÂ(°øÁÖ´ëÇб³) |
| I. Innovative NDE Techniques: Advanced Simulation and Smart Probes |
| - Dr. Steve Mahaut (CEA, France) |
| | | | ¡¡ |
| II. ±¹³» Áß°ø¾÷ »ê¾÷ÀÇ ºñÆÄ±«°Ë»ç±â¼ú Àû¿ë ÇöȲ ¹× Àü¸Á |
| - ±è´ë¼ø ¹Ú»ç (Çö´ëÁß°ø¾÷¢ß »ê¾÷±â¼ú¿¬±¸¼Ò) |
| | | | |
Á¦1¹ßÇ¥Àå |
| | | | |
| 2015. 5. 14(¸ñ) |
½Ã °£ | ³í¹® Á¦¸ñ ¹× ÀúÀÚ |
| <Á¶¼±/ÇØ¾çÇ÷£Æ®> | ÁÂÀå: ÀÌÁ¤±â(³ª¿ì¢ß) |
13:30-13:50 | ¿È»ó ±â¹ýÀ» ÅëÇÑ LNG¼± Æ®¸®Ç÷º½º º»µù Ãþ¿¡ ¹ß»ýÇÏ´Â °ø±Ø °áÇÔ ÀÚµ¿ °ËÃ⠽ýºÅÛ |
| ÀÌ»ó¹Î, ÀÓÇüÁø, ¼ÕÈÆ(Çѱ¹°úÇбâ¼ú¿ø), À±¿øÁØ, ¼ÛÀºÇÏ(Çö´ëÁß°ø¾÷) |
13:50-14:10 | LNG ÀúÀå TankÀÇ ¿ëÁ¢ºÎ PAUT Àû¿ëÀ» À§ÇÑ Automated Scanner °³¹ß |
| ÀÓ¼ºÁø(´ëÇѰ˻ç±â¼ú¢ß)¡¡ |
14:10-14:30 | ÀÚ±âÀû ¿ø¸®¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ Ã¶ÆÇÀÇ µÎ²² ÃøÁ¤ |
| ÀÓÁ¾¼ö(Æ÷Ç×»ê¾÷°úÇבּ¸¿ø) |
14:30-14:50 | ½ºÅ×Àη¹½º ° ¿ëÁ¢ºÎ °áÇÔ °ËÃâÀ» À§ÇÑ À§»ó¹è¿ ÃÊÀ½ÆÄ ±â¼ú °³¹ß |
| ÀÌÁ¤±â(³ª¿ì¢ß), ÀÌÁ¡¿(Àü³²´ëÇб³), Á¤ÁØÇõ(³ª¿ì¢ß), ±èÀ̰ï(Àü³²´ëÇб³) |
| <ÃÊÀ½ÆÄ> | ÁÂÀå: º¯Àç¿ø(¼¿ï°úÇбâ¼ú´ëÇб³) |
15:10-15:30 | ºÒ¿ë Áøµ¿ÀÚ°¡ ¹ÌÄ¡´Â À§»ó¹è¿ ŽÃËÀÚ ¼º´É¿¡ ´ëÇÑ Æò°¡ (Matrix Probe) |
| ¾ÈÇü±Ù, ½Å¿¬È£, ¿ì¿ø¼®(¢ß¿À¸§) |
15:30-15:50 | Model-based inverse methods for localization and quantification of the defects |
| Haidang Phan, Á¶À±È£(ºÎ»ê´ëÇб³) |
15:50-16:10 | ºñ¼±Çü Ç¥¸éÆÄÀÇ ÀüÆÄ ÇØ¼®À» À§ÇÑ ¸ðµ¨¸µ ±â¹ý ¿¬±¸ |
| Àå¼öÁõ(Áß³²´ëÇб³), Á¤ÇöÁ¶, Á¶¼ºÁ¾, ³²±â¿õ(¿ø±¤´ëÇб³) |
| | | | |
| 2015. 5. 15(±Ý) |
½Ã °£ | ³í¹® Á¦¸ñ ¹× ÀúÀÚ |
| <±¤±â¼ú> | ÁÂÀå: ¼´ëö(Çѱ¹Ç¥ÁذúÇבּ¸¿ø) |
09:30-09:50 | Å×¶óÇ츣Ã÷ÆÄ ºñÆÄ±«°Ë»ç¹ýÀ» ÀÌ¿ëÇÑ ¹ÝµµÃ¼ ÆÐŰÁö °áÇÔ °ËÃâ¿¡ °üÇÑ ¿¬±¸ |
| ¹Ú¼ºÇö(ÇѾç´ëÇб³), ÀåÁø¿í(»ï¼ºÀüÀÚ), ±èÇмº(ÇѾç´ëÇб³) |
09:50-10:10 | Å×¶óÇ츣Ã÷(THz) ÆÄ¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ Àº ³ª³ë¿ÍÀ̾î Çʸ§ÀÇ ºñÁ¢ÃË½Ä ¸éÀúÇ× ÃøÁ¤¿¡ °üÇÑ ¿¬±¸ |
| ±èµ¿Çö, Á¤¿ÏÈ£, ±èÇмº(ÇѾç´ëÇб³) |
10:10-10:30 | Æ©³Êºí ·¹ÀÌÀú¿Í ±¤°£¼·°è¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ Á¤¹ÐÁøµ¿ÃøÁ¤ |
| ±èÁ¾¿ø, ±èº´±â(Çѱ¹±â¼ú±³À°´ëÇб³) |
10:30-10:50 | ¿µ»ó󸮸¦ ÀÌ¿ëÇÑ ºñÁ¤Çü ÆÐÅÏÀ» °®´Â Áõ±â´©¼³ °ËÃâ ¹æ¹ý |
| ±è¼¼¿À, ÀüÇü¼·, ä°æ¼±, ¼Õ±â¼º(¼¼¾È±â¼ú¢ß), ¹ÚÁ¾¿ø(Ãæ³²´ëÇб³) |
| <ÃÊÀ½ÆÄ> | ÁÂÀå: ÀÓÁ¾¼ö(Æ÷Ç×»ê¾÷°úÇבּ¸¿ø) |
11:10-11:30 | °í·Î copper staveÀÇ ¸¶¸ð¼Õ»ó Æò°¡ |
| ÃÖ»ó¿ì, ±èÁ¤±Ô, ÃÖÅÂÈ, Àå¼öÈ£(Æ÷½ºÄÚ) |
11:30-11:50 | ÆòÆÇ±¸Á¶¹° °Ë»ç¸¦ À§ÇÑ Àü ¹æÇâ Àü´ÜÆÄ ÀüÀÚ±â À½Çâ Æ®·£½ºµà¼ °³¹ß |
| ½ÂÈ«¹Î, ¹ÚÃæÀÏ, ±èÀ±¿µ(¼¿ï´ëÇб³) |
11:50-12:10 | ÃÊÀ½ÆÄ º¯È¯±â ¹æ»çÄÁ´öÅϽº ±¹Á¦ºñ±³ ÃøÁ¤ |
| ±è¿ëÅÂ, ¾ÈºÀ¿µ(Çѱ¹Ç¥ÁذúÇבּ¸¿ø) |
12:10-12:30 | SFR ¼ÒµãÁß°¡½ÃÈ ¿ø°Ý°Ë»ç¸¦ À§ÇÑ ´Ùä³Î WG¼¾¼ ¸ðµâ °³¹ß |
| ±èȸ¿õ, ÁÖ¿µ»ó, ÀÌ¿µ±Ô, ¹Ú»óÁø, ¹Úâ±Ô, ±¸°æÈ¸, ±èÁ¾¹ü(Çѱ¹¿øÀڷ¿¬±¸¿ø) |
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Á¦2¹ßÇ¥Àå |
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| 2015. 5. 14(¸ñ) | | | |
½Ã °£ | ³í¹® Á¦¸ñ ¹× ÀúÀÚ |
| <À½Çâ¹æÃâ & SHM> | ÁÂÀå: °µ¿ÈÆ(Çѱ¹Ã¶µµ±â¼ú¿¬±¸¿ø) |
13:30-13:50 | Haptic interface¸¦ Ȱ¿ëÇÑ UAV ±¸Á¶¹°ÀÇ Ãæ°Ý ŽÁö ½Ã½ºÅÛ °³¹ß |
| Á¤ÈÖ±Ç, ¹Ú±ÔÇØ(Àü³²´ëÇб³), Jung H. Kim(Univ. of Arkansas), ÀÌâ¿ø(Àü³²´ëÇб³) |
13:50-14:10 | ºöÆ÷¹Ö ±â¹ýÀ» Ȱ¿ëÇÑ ±ØÇÑȯ°æ º¹ÇÕÀç ±¸Á¶¹°ÀÇ ÇǷμջó ŽÁö |
| ÀüÁØ¿µ, Á¤ÈÖ±Ç, ¹Ú±ÔÇØ(Àü³²´ëÇб³), ÇÏÀç¼®, ¹ÚÂùÀÍ(±¹¹æ°úÇבּ¸¼Ò), Jung H. Kim(Univ. of Arkansas) |
14:10-14:30 | GFRP CNG ÅÊÅ©¿¡¼ÀÇ ¼Õ»ó °ËÃâÀ» À§ÇÑ ¿¡³ÊÁö ±â¹Ý À§Ä¡Ç¥Á¤ °³¹ß |
| ±èÀϽÄ, ÇѺ´Èñ, ¹ÚÃá¼ö, À±µ¿Áø(Çѱ¹Ç¥ÁذúÇבּ¸¿ø) |
14:30-14:50 | À½Çâ¹æÃâ ±â¹ýÀ» ÀÌ¿ëÇÑ ¸®Æ¬ÀÌÂ÷ÀüÁö Ãæ/¹æÀü¿¡ ÀÇÇÑ ¿È Æò°¡ |
| À̽¹Ì, º¯Àç¿ø(¼¿ï°úÇбâ¼ú´ëÇб³) |
| <À½Çâ¹æÃâ & SHM> | ÁÂÀå: ¹ÚÃá¼ö(Çѱ¹Ç¥ÁذúÇבּ¸¿ø) |
15:10-15:30 | ¾ÐÀü ÆäÀÎÆ® ¼¾¼ÀÇ ºÐ±Ø ÃÖÀûÈ ¹× °¨µµ Çâ»ó¿¡ °üÇÑ ¿¬±¸ |
| ÇÑ´ëÇö, °¸íö, °·¡Çü(ÀüºÏ´ëÇб³) |
15:30-15:50 | º¹ÇÕÀç ÀûÃþÆÇÀÇ Ãæ°Ý À§Ä¡ °¨Áö¸¦ À§ÇÑ ½º¸¶Æ® ÆäÀÎÆ® ¼¾¼ Ȱ¿ë ¹æ¾È |
| ¹Ú½Âº¹, ÇÑ´ëÇö, °·¡Çü(ÀüºÏ´ëÇб³) |
15:50-16:10 | Àå±â ¿Âµµº¯È¿¡ ´ëÇÑ FBG ¼¾¼ÀÇ ±â°èÀû °µµ º¯È |
| °µ¿ÈÆ, ±èÇ念(Çѱ¹Ã¶µµ±â¼ú¿¬±¸¿ø), ±è´ëÇö(¼¿ï°úÇбâ¼ú´ëÇб³) |
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| 2015. 5. 15(±Ý) | | | |
½Ã °£ | ³í¹® Á¦¸ñ ¹× ÀúÀÚ |
| <Àû¿Ü¼±¿È»ó> | ÁÂÀå: ÃÖ¿øÀç(Çѱ¹Ç¥ÁذúÇבּ¸¿ø) |
09:30-09:50 | Pulsed Transient Thermography using Multi-spot Laser Beam for Hidden Delamination Detection in a CFRP Plate Structure |
| Ȳ¼ø±Ô, ¾çÁø¿, ÃÖÀ繬, ¼ÕÈÆ(Çѱ¹°úÇбâ¼ú¿ø) |
09:50-10:10 | NDE of Low-velocity Impact Damage in GFRP using Infrared Thermography Techniques |
| ±è±â¼®(¼¿ï´ëÇб³), ±è°ÇÈñ, À̰è½Â, Çãȯ(Çѱ¹±âÃʰúÇÐÁö¿ø¿¬±¸¿ø) |
10:10-10:30 | À§»óÀá±Ý ¿È»ó ±â¹ýÀ» ÀÌ¿ëÇÑ GFRPÆÇÀÇ °áÇÔ ±íÀÌÀÇ Á¤·®È |
| Ranjit, ±è¿øÅÂ, Á¤À±Àç(°øÁÖ´ëÇб³) |
10:30-10:50 | ÃÊÀ½ÆÄ ¿È»ó ºñÆÄ±«°Ë»ç¿Í ½ÃÆíÅ©±â¿¡ ´ëÇÑ ¿¬±¸ |
| ÃÖ¿øÀç(Çѱ¹Ç¥ÁذúÇבּ¸¿ø)¡¡ |
| <ÀüÀÚ±â> | ÁÂÀå: ±Ç°æÁÖ(ÇÑÀüKPS¢ß) |
10:00-10:20 | Áõ±â¹ß»ý±â Àü¿°ü °üÆÇ ÇϺΠ¿ëÁ¢ºÎ °áÇÔÆò°¡ ±â¼ú°³¹ß |
| ÀÌâÁØ, ÀåÀ±¿µ, À̱Լº, ½ÅÃæÈ£, ±èżö(¾Ø½ºÄÚ¢ß) |
10:20-10:40 | SGÀü¿°ü 2Â÷Ãø ºñÀÚ¼ºÃ¼ À̹°Áú ¿ÍÀü·ù½ÅÈ£ °ËÃâ´É ½ÇÁõ½ÃÇè |
| ¹Î°æ¸¸, ¹ÚÁß¾Ï, ±ÇÁø¿í(¢ßÀ¯¿¥¾ÆÀÌ) |
10:40-11:00 | C-scan image¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ È®°üºÎ °Ë»ç¿ë ȸÀüÇü ¿ÍÀü·ù ÇÁ·Îºê ¼³°è |
| ȲÃá¿í(³ª¿ì¢ß), ʰæÁÖ(Çѱ¹Æú¸®ÅØ´ëÇÐ) |
12:00-12:20 | Digital Radiographic Test ±â¼úÇöȲ |
| °û½Â¼·(³ª¿ì¢ß) |
| | | |
| | | |
Á¦3¹ßÇ¥Àå |
| | | | |
| 2015. 5. 14(¸ñ) | | | |
½Ã °£ | ³í¹® Á¦¸ñ ¹× ÀúÀÚ |
| <ÃÊÀ½ÆÄ> | ÁÂÀå: ±èÁ¤¼®(Á¶¼±´ëÇб³) |
13:30-13:50 | ºñ¼±Çü ÆÄ¶ó¹ÌÅÍ ÃøÁ¤¿¡¼ ȸÀý È¿°úÀÇ ¿¬±¸ |
| Á¶¼ºÁ¾, Á¤ÇöÁ¶, Àå¼öÁõ(Áß³²´ëÇб³), ÀÌÀåÇö(¿ø±¤´ëÇб³) |
13:50-14:10 | ºñ¼±Çü °î¼± ¸ÂÃã¹ýÀ» ÀÌ¿ëÇÑ ºñ¼±Çü ÆÄ¶ó¹ÌÅÍÀÇ ÃøÁ¤ |
| Á¤ÇöÁ¶(¿ø±¤´ëÇб³), Àå¼öÁõ(Áß³²´ëÇб³), Á¶¼ºÁ¾(¿ø±¤´ëÇб³) |
14:10-14:30 | ¹Ì¼¼¼Õ»ó ·¥ÆÄ ºñÆÄ±«°Ë»ç¸¦ À§ÇÑ ºñ¼±Çü ÃÊÀ½ÆÄ ½Åȣó¸® ±â¹ý ¿¬±¸ |
| ÀÌ¿ëÈñ, Á¶À±È£(ºÎ»ê´ëÇб³) |
14:30-14:50 | Difference Hilbert Back Projection (DHB) Imaging Technique based on the |
| Fully Non-Contact NDT Method |
| Zong Le, Á¶À±È£(ºÎ»ê´ëÇб³) |
| <ÇöÀåÀû¿ë ½Å±â¼ú - ºñÆÄ±«°Ë»çÇùȸ ±â¼úÀ§¿øÈ¸> | ÁÂÀå: Çã»ï¼®(¢ß»ï¿µ°Ë»ç¿£Áö´Ï¾î¸µ) |
15:10-15:30 | ¹«¼±¿µ»ó±â¹Ý NDT IN SOURCE Å©·Ñ·¯ ½Ã½ºÅÛ |
| ±èÇÐÀÏ(Çѱ¹°¡½º°ø»ç) |
15:30-15:50 | ¿±³È¯±â Carbon Steel ¼ö¸íÆò°¡¸¦ À§ÇÑ MBECT |
| À¯±Ù¹Î(ÄÉÀÌ¿£µðÀÌ(ÁÖ)) |
15:50-16:10 | ¹ßÁÖÀÚÀÇ ¾ÈÀüÁ¶Ä¡ Àǹ« |
| ¹é¹ÎÈ£(Çѱ¹ºñÆÄ±«°Ë»çÇùȸ) |
| | | | |
| | | |
Æ÷½ºÅÍ ¹ßÇ¥Àå |
| | | | |
| 2015. 5. 15(±Ý) 08:30~09:30 ÁÂÀå: ÀÌÁ¤±â(³ª¿ì¢ß) |
¹øÈ£ | ³í¹® Á¦¸ñ ¹× ÀúÀÚ |
1 | °øÁøÇü ŽÃËÀÚ¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ Àý´ë ÃÊÀ½ÆÄ ºñ¼±Çü ÆÄ¶ó¹ÌÅÍ ÃøÁ¤¿¡¼ °¡Áø Á֯ļöÀÇ À¯È¿ ¹üÀ§ |
| ¼Ûµ¿±â, ÀÌÁÖÈ£, ÀüÁöÇö, Æíµµ°æ, Àå°æ¿µ(ÇѾç´ëÇб³) |
2 | Åæ ¹ö½ºÆ® ½ÅÈ£ÀÇ Ç»¸®¿¡ º¯È¯À» ÀÌ¿ëÇÑ ÃÊÀ½ÆÄ ºñ¼±Çü ÆÄ¶ó¹ÌÅÍÃøÁ¤¿¡¼ âÇÔ¼ö°¡ ¹ÌÄ¡´Â ¿µÇâ |
| À̰æÁØ, ±èÁ¾¹ü, ¼Ûµ¿±â, Àå°æ¿µ(ÇѾç´ëÇб³) |
3 | Àç·áÀÇ Åº¼º°è¼ö Æò°¡ ¹× ÀÀ¿ëÀ» À§ÇÑ ÃÊÀ½ÆÄ À½Çâ ºñ¼±ÇüÀÇ ÀÌ¿ë |
| ÃÖÁ¤¼®, Á¶À±È£(ºÎ»ê´ëÇб³) |
4 | Lamb Wave ºñ¼±Çü ÆÄ¶ó¹ÌÅ͸¦ ÀÌ¿ëÇÑ Àç·áÀÇ ºÎ½Ä Æò°¡ |
| ÃÖÈñ¿õ, Á¶À±È£(ºÎ»ê´ëÇб³) |
5 | ·¥ÆÄ¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ ÆòÆÇ ±¸Á¶¹° Áø´Ü |
| ¹ÎÁرâ, Á¶À±È£(ºÎ»ê´ëÇб³) |
6 | ·¥ÆÄ¸¦ Ȱ¿ëÇÑ °î¸é±¸Á¶¹°ÀÇ Åä¸ð±×·¡ÇÇ ¿¬±¸ |
| ¹ÚÁØÇÊ, Á¶À±È£(ºÎ»ê´ëÇб³) |
7 | ¸ÖƼä³Î À§»ó¹è¿ ÀúÁÖÆÄ ÃÊÀ½ÆÄ Àåºñ¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ Àå°Å¸® ¹è°ü ¿ëÁ¢ºÎ Ž»ó |
| ±èŰæ, ¹ÚÁØÇÊ, ÀÌÀç¼±, Á¶À±È£(ºÎ»ê´ëÇб³) |
8 | ºñ Á¢ÃË½Ä ¸¶ÀÌÄ̽¼ °£¼·°è¸¦ Ȱ¿ëÇÑ À¯µµÃÊÀ½ÆÄ ¿¬±¸ |
| À̼±¿í, Á¶À±È£(ºÎ»ê´ëÇб³), ±èÀ±¿µ(µ¿ÀÇ´ëÇб³) |
9 | º¸ÀÏ·¯ ¿öÅÍ¿ù Æ©ºê¿¡¼ÀÇ À¯µµÃÊÀ½ÆÄ °øÁø½ÅÈ£ Ư¼ººÐ¼® |
| ±è¿ë±Ç, À̵¿¹Î, ÃÖ»óÈÆ(ÇÑÀüKPS¢ß) |
10 | ¼ÒµãÁß°¡½ÃÈ ¿þÀ̺갡À̵å ÃÊÀ½ÆÄ¼¾¼ÀÇ ¼ÒµãÁß ½ÇÁõ½ÃÇè |
| ÁÖ¿µ»ó, ±èȸ¿õ, ¹Ú»óÁø, ÀÌ¿µ±Ô, ¹Úâ±Ô, ±¸°æÈ¸, ±èÁ¾¹ü(Çѱ¹¿øÀڷ¿¬±¸¿ø) |
11 | ±¸Çü Ç¥ÀûÀÇ Å©±â ¹× ÃÊÀ½ÆÄ Á֯ļö¿¡ µû¸¥ ¿¡ÄÚ½ÅÈ£ Ư¼º ºÐ¼® |
| ÀÌÈ¿Áø(¼øÃµÇâ´ëÇб³), ±è¿ëÅÂ(Çѱ¹Ç¥ÁذúÇבּ¸¿ø), ±è¼±Çü(¼øÃµÇâ´ëÇб³), ¾ÈºÀ¿µ(Çѱ¹Ç¥ÁذúÇבּ¸¿ø) |
12 | »ê¾÷¿ë Ãʰí¾Ð ÃÊÀ½ÆÄ ÆÞ¼/¸®½Ã¹ö °³¹ß |
| ³ëÈñÃæ, ¹ÚÃ¶ÈÆ, À±±¤½Ä(¢ßÀ¯¿¥¾ÆÀÌ) |
13 | ¼±¹Ú¿£Áø¹ëºêÀÇ ÀÚµ¿ ÃÊÀ½ÆÄ°Ë»ç ½Ã½ºÅÛ °³¹ß |
| ÀÓÀç»ý(Æ÷À¯ÅØ), ±è¿îÅÂ(ÄÉÀÌ¿¡½ºÇÇ) |
14 | Phased Array Analysis |
| ¹®Á¾ÈÆ, °û³ë±Ç, ¹ÚÈÆÈñ, ÀÌűÙ, ±è¼±ÁÖ(¼¼¾È±â¼ú¢ß) |
15 | ¿øÀü ¹è°ü ÀÌÁ¾±Ý¼Ó¿ëÁ¢ºÎ Flexible PAUT ÀýÂ÷¼ ±â·®°ËÁõ |
| À̽ÂÇ¥, Á¤³²µÎ(ÇѼö¿ø Áß¾Ó¿¬±¸¿ø) |
16 | A Study on the Frequency Dependent of Nano-Structured Thin Film with Dual-Beam Interferometer |
| ¹ÚÇØ¼º, ¹ÚÀͱÙ(¼¿ï°úÇбâ¼ú´ëÇб³), Sanichiro Yoshida, David Didie(Southeastern Louisiana University), Á¶È«¼®(ÇÑÀüKPS¢ß), ÀåÁ¤ÈÆ(LLA korea), ÀÌÀçÈ£(³ª¿ì¢ß) |
17 | ¹è°ü¿ëÁ¢ºÎ ÃÊÀ½ÆÄ°Ë»çÀÇ °áÇÔ°ËÃâÈ®·ü(POD) ºÐ¼® |
| ¹®¿ë½Ä(ÇѼö¿ø Áß¾Ó¿¬±¸¿ø) |
18 | ÃÊÀ½ÆÄŽ»ó°Ë»ç °á°úÀÇ È®·ü·ÐÀû ½Å·Úµµ Æò°¡ ±â¹ý |
°ûµ¿¿, Á¶½Â¹ü(¼¿ï°úÇбâ¼ú´ëÇб³), ±è°æÁ¶(Çѱ¹¿øÀڷ¾ÈÀü±â¼ú¿ø), ¹ÚÀͱÙ(¼¿ï°úÇбâ¼ú´ëÇб³) |
19 | ¿øÀڷ¹ßÀü¼Ò »óºÎÇìµå°üÅë°ü ÃÊÀ½ÆÄ Ž»ó°Ë»ç ±â·®°ËÁõü°è±¸Ãà ÇöȲ |
| ±è¿ë½Ä, À±º´½Ä(Çѱ¹¼ö·Â¿øÀÚ·Â) |
20 | ¿øÀü Áõ±â¹ß»ý±â ÀÜ·ù¹°ÁúÀÇ ECT ½ÅÈ£ Ư¼º ºÐ¼® |
| ±èÀÎö, ³²¹Î¿ì(Çѱ¹¼ö·Â¿øÀÚ·Â) |
21 | Çѱ¹Çü Ç¥ÁØ ¿øÀü Áõ±â¹ß»ý±â »óºÎÁöÁö±¸Á¶¹°(BW) À§Ä¡¿¡¼ ¹ß»ýµÇ´Â ´ÙÁß ¸¶¸ð Bobbin ½ÅÈ£¿¡ ´ëÇÑ ºÐ¼® |
| ÀÌÁ¤ºó, ¼¿ë¹ü, ¼Û¼ºÃ¶, Á¶ÁØ¿µ, Á¤Áø¼®(¢ß¿À¸£ºñÅØ) |
22 | ¼Û¼ö½ÅÇü ¹è¿ ¿ÍÀü·ù ŽÃËÀÚ¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ Ç¥¸é°Ë»ç |
| ÀÌÅÂÈÆ, ¹®±Õ¿µ, À¯ÇöÁÖ(Çѱ¹¼ö·Â¿øÀÚ·Â) |
23 | Bobbin ½ÅÈ£¿¡¼ÀÇ À̹°Áú Áö½Ã °ËÃâ °¨µµ |
| Á¤Èñ¼º, ±Ç¿µÈ£, À̵¿ÇÏ, ½Å¿íÁ¶, ÀÓÂù±â(¼¼¾È±â¼ú¢ß) |
24 | ÇÇ·ÎÇÏÁß¿¡ ÀÇÇÑ ¿ëÁ¢ °áÇÔ ½ÃÇèÆíÀÇ ¿Åº¼º °Åµ¿ ºÐ¼® |
ÃÖ¸¸¿ë(Çѱ¹Ç¥ÁذúÇבּ¸¿ø), ¹ÚÈñ»ó(Çѱ¹½º¸¶Æ®±¸Á¶½Ã½ºÅÛ¿¬±¸¿ø), ±Ç±¸¾È, ¹ÚÁ¤ÇÐ, ±è¼ö¾ð, ÃÖ¿øÀç(Çѱ¹Ç¥ÁذúÇבּ¸¿ø), ±è¿øÅÂ(°øÁÖ´ëÇб³) |
25 | Internal Defect Position Analysis of a Multilayer Chip using Lock-In Infrared Microscopy |
±è¼±Áø(Ãæ³²´ëÇб³), À̰è½Â, Çãȯ(Çѱ¹±âÃʰúÇÐÁö¿ø¿¬±¸¿ø), ±è±â¼®(¼¿ï´ëÇб³), ±è°ÇÈñ(Çѱ¹±âÃʰúÇÐÁö¿ø¿¬±¸¿ø) |
26 | SM45C À̸é°áÇÔ¿¡ ´ëÇÑ ÀúÁÖÆÄ ¿¿µ»ó ó¸® ¿¬±¸ |
| Á¤À±Àç, ±è¿øÅÂ, Ranjit(°øÁÖ´ëÇб³) |
27 | Àû¿Ü¼± ¿È»ó ±â¼úÀ» ÀÌ¿ëÇÑ ¹ëºê ´©¼³ Æò°¡ |
| °¼ºÈÆ, ¹ÚÀÏö, ±è»óÅÂ, Á¤Çöö, ±è°æ¼®(Á¶¼±´ëÇб³) |
28 | 6kJ Á¦³í ÆÞ½º Àû¿Ü¼± ¿È»ó ±â¹ý¿¡ ÀÇÇÑ Àü±Ø °áÇÔ Æò°¡ |
| ¹Ú¹ÎÁ¤, ÀÌÇýÀÎ, À̽¹Ì, º¯Àç¿ø(¼¿ï°úÇбâ¼ú´ëÇб³) |
29 | Àü´Ü°£¼·¹ýÀ» ÀÌ¿ëÇÑ Cu ¹Ú¸·ÀÇ ¹æÇâ¿¡ µû¸¥ °áÇÔ ÃøÁ¤ |
| ½ÅÁÖ¿±, À±³ª¿¬, °Âù±Ù, Á¤Çöö, ±è°æ¼®(Á¶¼±´ëÇб³) |
30 | THz/sub-mm ÀüÀÚ±âÆÄ±â¹Ý ³ª³ë ÄÜÅ©¸®Æ® ºñÆÄ±«°Ë»ç ±â¼ú Àû¿ë¼º °ËÅä |
| ±èÇ念, ¿À½ÂÀç, ÁÖö¹Î(¿¬¼¼´ëÇб³), °µ¿ÈÆ(Çѱ¹Ã¶µµ±â¼ú¿¬±¸¿ø) |
31 | ºñÆÄ±«°Ë»ç¿¡¼ÀÇ Á¦ÇÑµÈ °¢µµÀÇ µ¿½Ã ´ë¼öÀû ¹Ýº¹ ¿µ»óÀ籸¼º°ú ÇÊÅÍ ÈÄ ¿µ»óÀ籸¼º ¹æ¹ýÀÇ ºñ±³ |
| ±è´ëõ, À±ÇѺó, ±èÈ£°æ(ºÎ»ê´ëÇб³) |
32 | ºñÆÄ±«°Ë»ç¸¦ À§ÇÑ Äܺö ÄÄÇ»ÅÍ ´ÜÃþÃÔ¿µ¿¡¼ ´Ü°èº° ÃÔ¿µ°ú ¿¬¼ÓÃÔ¿µ ¹æ½ÄÀÇ ºñ±³ |
| ¹ÚÁعü, À±ÇѺó, ±è½ÂÈ£, ±èÁØ¿ì, °¨¼öÈ, ¹ÚÀºÆò, ±èÈ£°æ(ºÎ»ê´ëÇб³) |
33 | ´ÜÀÏÁ¶»ç ÀÌÁß¿¡³ÊÁö ±â¹ýÀ» ÀÌ¿ëÇÑ ³³¶«ºÎ ºÐ¼® |
| ±è½ÂÈ£, ±èÈ£°æ(ºÎ»ê´ëÇб³) |
34 | A Study of Differential Phase-Contrast Imaging with Low Dose X-Ray Source for Nano Materials |
| Bayanjargal Baasandorj, ÀÓ±³±Ù, ³²±âÁß(Nexview TX Ltd.), ±èÇâ±Õ(È«ÀÍ´ëÇб³) |
35 | ¿øÀü Áõ±â¹ß»ý±â ¿ÍÀü·ù°Ë»ç ¹ßÀü¼Ò ƯÁ¤±â·®°ËÁõ ÇÁ·Î±×·¥ Àû¿ë |
| Á¤³²µÎ(ÇѼö¿ø Áß¾Ó¿¬±¸¿ø) |
36 | ¿øÀü ÀÌÁ¾±Ý¼Ó¿ëÁ¢ºÎ °Ë»çÀü Mockup ÈÆ·Ã |
| À̽ÂÇ¥, ¹®¿ë½Ä(ÇѼö¿ø Áß¾Ó¿¬±¸¿ø) |
37 | °¡ ºÎÇϸ¦ ÀÌ¿ëÇÑ ÁýÀûȸ·Î¼ÒÀÚÀÇ ³»¹æ»ç¼± »ýÁ¸¼º °ËÃâ |
| Á¶Àç¿Ï(Çѱ¹¿øÀڷ¿¬±¸¿ø) |
38 | ¿øÀü ISI °áÇÔÃßÀÌ ºÐ¼®(¿þ½ºÆÃÇϿ콺Çü) |
| À¯ÇöÁÖ, ÀÌÁ¤¼®, ÀÌÅÂÈÆ(ÇѼö¿ø Áß¾Ó¿¬±¸¿ø) |
39 | ±¹³»¿øÀü°ú ¹Ì±¹¿øÀüÀÇ °Ý³³°Ç¹° Á¾ÇÕ´©¼³·ü½ÃÇè ¹æ¹ý·Ð ºñ±³ ºÐ¼® |
| ±èâ¼ö(ÇѼö¿ø Áß¾Ó¿¬±¸¿ø) |